1. An introduction to mixed-signal IC test and measurement
المؤلف: / Mark Burns, Gordon W. Roberts
المکتبة: کتابخانه مرکزی و مرکز اطلاع رسانی دانشگاه محقق اردبیلی ره (أردبیل)
موضوع: Integrated circuits- Testing,Mixed signal circuits- Testing
رده :
TK7874
.
B825
2001
![](/design/images/bookmore.png)
![](/design/images/visualshelfbtn.png)
2. An introduction to mixed-signal IC test and measurement
المؤلف: Burns, Mark,Mark Burns, Gordon W. Roberts
المکتبة: كتابخانه و مركز اسناد دانشگاه كردستان (کردستان)
موضوع: Testing ، Integrated circuits,Testing ، Mixed signal circuits
رده :
TK7874
.
B825
2001
![](/design/images/bookmore.png)
![](/design/images/visualshelfbtn.png)
3. An introduction to mixed-signal IC test and measurement
المؤلف: / Mark Burns, Gordon W. Roberts
المکتبة: المكتبة المركزية مركز التوثيق وتزويد المصادر العلمية (أذربایجان الشرقیة)
موضوع: Integrated circuits- Testing,Mixed signal circuits- Testing
رده :
E-BOOK
![](/design/images/bookmore.png)
4. An introduction to mixed-signal IC test and measurement
المؤلف: / Mark Burns, Gordon W. Roberts
المکتبة: کتابخانه مرکزی و مرکز اطلاع رسانی دانشگاه محقق اردبیلی ره (أردبیل)
موضوع: Integrated circuits- Testing,Mixed signal circuits- Testing
رده :
TK7874
.
B825
2001
![](/design/images/bookmore.png)
![](/design/images/visualshelfbtn.png)
5. An introduction to mixed-signal IC test and measurement
المؤلف: / Mark Burns, Gordon W. Roberts
المکتبة: مكتبات الكلية التقنية بجامعة طهران (طهران)
موضوع: Integrated circuits -- Testing,Mixed signal circuits -- Testing
رده :
TK
7874
.
B825
2001
![](/design/images/bookmore.png)
![](/design/images/visualshelfbtn.png)
6. An introduction to mixed-signal IC test and measurement
المؤلف: / Mark Burns, Gordon W. Roberts
المکتبة: كتابخانه مركزي و مركز اسناد دانشگاه شهيد چمران (خوزستان)
موضوع: Integrated circuits--Testing,Mixed signal circuits--Testing
رده :
TK
,
7874
,.
B825
,
2001
![](/design/images/bookmore.png)
![](/design/images/visualshelfbtn.png)
7. Essentials of digital signal processing using matlab
المؤلف: vinay k.lngle, john g.proakis
المکتبة: كتابخانه مركزي و مركز اطلاع رساني دانشگاه شاهد (طهران)
موضوع: Integrated circuits- Very large scale integration -- Testing,Digital integrated circuits -- Testing,Mixed signal circuits -- Testing,Semiconductor storage devices -- Testing
رده :
TK
،
7874
,.
75
،.
I5
,
E8
،
2012
![](/design/images/bookmore.png)
![](/design/images/visualshelfbtn.png)
8. #Test and diagnosis of analogue, mixed-signal and RF integrated circuits
المؤلف: #edited by Yichuang Sun
المکتبة: کتابخانه مرکزی دانشگاه صنعتی اصفهان (أصبهان)
موضوع: Linear integrated circuits -- Testing ،Mixed signal circuits -- Testing ،Radio frequency integrated circuits -- Testing
رده :
#
TK
،#.
T48
،#
2008
![](/design/images/bookmore.png)
![](/design/images/visualshelfbtn.png)
9. Test and diagnosis of analogue, mixed-signal and RF integrated circuits
المؤلف:
المکتبة: المكتبة المركزية مركز التوثيق وتزويد المصادر العلمية (أذربایجان الشرقیة)
موضوع: Linear integrated circuits - Testing,Mixed signal circuits - Testing,Radio frequency integrated circuits - Testing
رده :
TK7874
.
654
.
T48
2008
![](/design/images/bookmore.png)
![](/design/images/visualshelfbtn.png)
10. Test and diagnosis of analogue, mixed-signal and RF integrated circuits
المؤلف: edited by Yichuang Sun.
المکتبة: کتابخانه مطالعات اسلامی به زبان های اروپایی (قم)
موضوع: Linear integrated circuits-- Testing.,Mixed signal circuits-- Testing.,Radio frequency integrated circuits-- Testing.
![](/design/images/bookmore.png)
11. Test and diagnosis of analogue, mixed-signal and RF integrated circuits
المؤلف: / edited by Yichuang Sun
المکتبة: مكتبات الكلية التقنية بجامعة طهران (طهران)
موضوع: Linear integrated circuits -- Testing,Mixed signal circuits -- Testing,Radio frequency integrated circuits -- Testing
رده :
TK
7874
.
654
.
T47
2008
![](/design/images/bookmore.png)
![](/design/images/visualshelfbtn.png)